小角Ｘ線散乱(SAXS)法は、ナノマテリアル、ソフトマター、溶液などの構造を決定するのに有効な手法です。当研究室ではリガク製のNANO-Viewer (Figure 1) を使用し、多孔質材料のSAXS測定を行っています。また、我々は高エネルギー加速器研究機構(KEK)のフォトンファクトリー(PF)に設置されているSAXS測定ステーションでも測定を行っています。シンクロトロン放射光を使うことにより迅速な測定が可能であり、極めて質の良いデータが得られます。

Fig. NANO-Viewer (RIGAKU), Focusing multilayer optics + 3 slit, λ= 1.54Å (CuKα), s > 0.07 nm^-1