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主要装置

走査型電子顕微鏡

炭素材料や電極の観察を行うための走査型電子顕微鏡です。観察可能倍率の高くないタイプですが、エネルギー分散型X線分光法による元素分析が可能で重宝しています。

Fig. Scanning electron microscopy/energy dispersive X-ray spectrometry.

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